Ming-Li Metrology CTスキャンアセンブリコンポーネント分析

CTスキャンアセンブリコンポーネント分析

計測CTスキャンシステムは、X線技術を用いて物体の表面を損傷することなく透過し、内部構造を明確に観察することができます。この方法により、物体の内部寸法や部品の配置を正確に分析することが可能になります。

 

プラスチック部品の 3D アセンブリ解析。

CTボリュームビューア

 

製品の内部画像分析。

 

電子製品の階層化ビデオ分析。