Analyse des composants d'assemblage par tomographie atomique de Ming-Li Metrology

Analyse des composants d'un scanner CT

Les systèmes de tomographie par rayons X (CT) utilisent la technologie des rayons X pour pénétrer la surface des objets sans les endommager, permettant ainsi une visualisation claire de leurs structures internes. Cette méthode permet une analyse précise des dimensions internes et de l'agencement des composants au sein d'un objet.

 

Analyse d'assemblage 3D de composants en plastique.

Visualiseur de volume CT

 

Analyse d'imagerie interne des produits.

 

Analyse vidéo multicouche des produits électroniques.